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中國自主開發(fā)研制的微/納米測控設備通過鑒定

2002年12月23日 10:13

  中新社北京十二月二十二日電 中國在微/納米測控方面有了自己的設備——自主開發(fā)研制的納米測長儀和量塊快速檢測儀兩項科技成果日前通過了國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局主持的鑒定。

  中國青旅實業(yè)發(fā)展有限公司今天在此間舉行新聞發(fā)布會,向海內外公布了這一消息。

  專家稱,這兩項國際水準的科技成果不僅表明中國在微/納米光電測控領域達到世界水平,而且對解決目前制約中國高新技術、制造業(yè)發(fā)展及新材料研制過程中的計量技術問題,推動精密計量儀器的升級換代具有重要意義,標志中國向更精微測控微/納米技術方面邁進了重要一步。

  納米測長儀是一種通用長度傳感器,它的研制成功表明長度通用量具已提高到納米量級,并且從靜態(tài)人工讀數發(fā)展到數字化顯示。該儀器在分辨率、重復性、準確度和短時穩(wěn)定性等主要技術指標上,都處于國際領先水平。量塊快速檢測儀是一種新型的量塊檢測儀器,將直接測量與比較測量結合起來,測量分辨率達到一納米。

  研制開發(fā)上述兩項成果的中國青旅實業(yè)發(fā)展有限公司所屬標普納米測控技術公司是目前國內唯一專業(yè)從事微/納米光電測控技術及相關產品開發(fā)與研制的企業(yè),已開發(fā)出十一大系列一百多個品種的產品,已出口到美國、澳大利亞、日本、芬蘭等國家。


 
編輯:李艷敏

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